2025-09-11
作為顆粒表征解決方案的供應商，Microtrac提供動態圖像、激光衍射等系列光學顆粒分析儀，廣泛了解每種方法的優缺點。為客戶提供先進的技術，以不斷獲得可靠的結果。
麥奇克（Microtrac）
納米粒度及Zeta電位儀
STABINO ZETA具有高分辨率、快速、準確和可重復的Zeta電位測量。能夠對顆粒大小從0.3nm-300μm的樣品進行Zeta電位測量，對濃度高達40%（體積）的樣品也能進行電位測量。
憑借獨特的測量技術，STABINO ZETA可在數秒內同步測定五個參數。與納米粒度儀NANOTRAC FLEX聯用時，可對同一樣品同步進行粒徑測量。
麥奇克（Microtrac）
激光粒度粒形分析儀
采用激光衍射法測量原理，專利的固體三激光設計和全量程米氏理論
儀器特點
① 超寬的測量范圍0.01-4000µm；
② 專利的三激光設計（提供紅色和藍色固體激光器）；
③ 151個檢測單元，實時測量光信號；
④ 超寬的檢測角度0-165°；
⑤ 干濕法轉換非常方便，無需連接任何管路，10秒內完成切換；
⑥ 干濕法均全自動操作，無需手動清洗樣品池及管路；
⑦ 濕法進樣系統兼容水相和有機相。
⑧ 可加配動態圖像法，提供多于30種粒徑和形態參數。
大昌華嘉科學儀器部
大昌華嘉作為Microtrac 激光衍射與動態圖像分析的中國區代理，我們為用戶提供完善的售前、售后服務及全面的技術和應用支持。
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