2025-10-28
名稱：納米粒度及Zeta電位分析儀品牌：麥奇克（Microtrac）
型號(hào)：NANOTRAC WAVE II
一、設(shè)備原理
采用動(dòng)態(tài)光背散射及電泳法測(cè)量原理，Y型光纖光路設(shè)計(jì)和全量程米氏理論
二、應(yīng)用范圍
電池材料，陶瓷，金屬粉體，制藥，食品，乳液，化妝品，工業(yè)礦物，墨水，涂料&顏料，建筑材料等等。
三、特點(diǎn)
① 超寬的測(cè)量范圍0.3nm-10µm
② Y型光纖光路設(shè)計(jì)；
③ 真正的背散射技術(shù)-180°測(cè)量；
④ 樣品濃度可高達(dá)40%v/v
⑤ 最 小 樣 品 量 可 達(dá) 5 μ l
⑥ 頻 率 能 譜 計(jì) 算 取 代 傳 統(tǒng) 的 光 子 相 關(guān) 光 譜 法；
⑦ 可 控 參 比 技 術(shù)
⑧ 符 合 標(biāo) 準(zhǔn) 具 有 數(shù) 據(jù) 審 計(jì) 追 蹤 功 能
⑨ 一次加樣測(cè)量，即可得到粒度，Zeta電位，濃度及分子量
四、滿足國際國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)
麥奇克（Microtrac）納米粒度及Zeta電位分析儀NANOTRAC WAVE II滿足全球主流檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，確保數(shù)據(jù)可靠，包括：
- ISO/TR 19997:2018
- ISO 13099-2
- ISO 22412
- ISO/TR 22814
- JIS Z 8828
五、競(jìng)爭(zhēng)分析
結(jié)合了主流的馬爾文納米粒度及Zeta電位分析儀的優(yōu)勢(shì)，測(cè)量范圍更寬，可控參比技術(shù)和Y型光路設(shè)計(jì)，180°真正的背散射測(cè)量，減少多重光散射的影響，分析速度提高，維護(hù)少故障率低。
六、國內(nèi)售后 服務(wù)及時(shí) 品質(zhì)保障
大昌華嘉科學(xué)儀器作為中國區(qū)美國麥奇克納米粒度及Zeta電位分析儀NANOTRAC WAVE II產(chǎn)品的總代理，我們?yōu)橛脩籼峁┩晟频氖矍?、售后服?wù)及全面的技術(shù)和應(yīng)用支持。
服務(wù)區(qū)域覆蓋整個(gè)中國區(qū)，并于上海、北京、廣東、四川、陜西等重要城市設(shè)有辦事處及實(shí)驗(yàn)室。堅(jiān)持每年定期回訪，巡回檢查及保養(yǎng)以延長機(jī)子壽命。保修期內(nèi)，產(chǎn)品若發(fā)生故障，在接到用戶報(bào)修后，30分鐘之內(nèi)給予答復(fù)，48小時(shí)內(nèi)帶上備品和維修設(shè)備響應(yīng)到現(xiàn)場(chǎng)。
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